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SIPDR電阻率測試夾具

描述：SIPDR電阻率測試夾具用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導體晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

更新時間：2024-11-29
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詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域化工,電子,印刷包裝,航天,電氣

SIPDR電阻率測試夾具SiPDR（單柱介電諧振器）用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導體晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs<20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

 

SIPDR電阻率測試夾具對于半導體晶片，電阻率測量的上限約為1000Ωcm。 具有較高電阻率值的半導體可以使用該諧振器方便地進行測量。所有SiPDR（單柱介電諧振器）都是定制的。

積社科技_QWED_SiPDR單柱介電諧振器原理圖

 

上海騏銳信息科技有限公司是一家系統集成科貿企業。公司專業提供國產、進口精密測試儀器及系統集成解決方案，擁有一支專業技術服務團隊，為新老客戶提供完善的售前售后服務。 公司主要服務于通訊、電力、電子、石化、工業自動化、科研教學等行業。

類型

參數

厚度為h的樣品的測量精度

±2％

工作頻率

5 GHz

工作溫度范圍

-270°C 至 110°C

 



 

 

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